в плоскости,  перпендикулярной направлению распрстранения вол-
ны, быстро  и беспорядочно сменяют друг друга так, что ни одно
из этих   направлений  колебаний не является преимущественным.
Поперечную волну называют поляризованной,  если в каждой точке
пространства направление колебаний сохраняется неизменным (ли-
нейнополяризованным) или  изменяется с течением времени по оп-
ределенному закону   - (циркулярно или элептическиполяризован-
ной).
   
     Поляризация может возникнуть вследствие отсутствия осевой
симметрии в  возбуждающем волну излучателе (например,  в лазе-
рах), при  отражении и приломлении волн на границе  двух  сред
(наибольше степень   поляризации имеет место при отражении под
углом Брюстера тангенс угла равен коэффициенту преломления от-
ражающей среды) при рапространении волны в анизотропной среде.

     А.с. 269 588: Способ определения стойкости стекла в спаях
с металлом к электролизу, состоящий в том, что через термоста-
тированный образец пропускается электрический ток, причем нап-
ряжение питающего источника остается постоянным,   и  измеряют
величину тока,   проходящего через образец,  отличающийся тем,
что с целью повышения точности наблюдений,   о  ходе  процесса
электролиза судят по измерению картины механических напряжений
в местах спая с металлом,  наблюдаемой в лучах поляризованного
света.

     А.с. 452  786:  Способ магнитного контроля ферромагнитных
материалов, заключающийся  в том, что на поверхность предвари-
тельно намагниченного  материала наносят индикатор и по рисун-
ку, образованному  под воздействием полей рассеяния,  судят  о
качестве изделия,  отличающийся тем, что с целью повышения его
чувствительности, в  качестве индикатора используют  монокрис-
таллическую пленку магний-марганцевого феррита с полосовой до-
менной структурой,  а изменение состояния индикатора наблюдают
в поляризованном свете.

     А.с. 221 345: Способ контроля кристаллизации кондитерских
масс, например, ирисной, в процессе производства путем микрос-
копирования исследуемого  образца,  отличающийся тем,  с целью
повышения точности контроля,  микроскопирование осуществляют в
проходящем поляризованном  световом луче с измерением при этом
интенсивности светового потока с последующим определением  со-
держания кристаллов.

     А.с. 249 025:  Способ оценки распределния контактных нап-
ряжений по величине деформации пластичной прокладки,  распола-
гаемой в   зоне контакта между соприкосающимися поверхностями,
отличающийся тем,  что с целью повышения точности,  в качестве
пластичной прокладки   используют пленку из оптически чувстви-
тельного материала,  которую затем просвечивают поляризованным
светом в направлении действия контактных сил, и по картине по-
лос судят о распределении контактных напряжений.

     5.4.4. Вобщем случае д и ф р а к ц и я  -  это  отлонения
волновых движений от законов геометрической /прямолучевой/ оп-
тики. Если  на пути распространения волны имеется препятствие,
то на краях препятствия наблюдается огибание волной края. Если
размеры препятствия велики по сравнению с  длиной  волны,   то
распрстранение волны   почти не отклоняется от прямолинейного,
т.е. дифракционные  явления не значительны.  Если  же  размеры
препятствия сравнимы   с длиной волны,  то наблюдается сильное
отклонение от прямолинейного распространения волнового фронта.
При совсем малых размерах препятствия волна полностью его оги-
бает - она "не замечает" препятствия.  Очевидно, величина отк-
лонения /количественная характеристика дифракции/ при заданном
препятствии будет зависеть от длины  волны;  волны  с  большей
длиной будут сильнее огибать препятствие.
   
     Такое разделение   волны   используется  в  дифракционных
спектроскопах, где  белый свет  /совокупность  волн  различной
длины/ располагается в спектр с помощью дифракционной решетки-
системы частых полос.

     В авторском свидетельстве N'249 468 изменение дифракцион-
ной картины   при  изменении размеров препятствий использовано
для градировки магнитного поля, под действием которого изменя-
ются параметры   ферромагнитной  пленки  с  полосовой доменной
структурой: Способ  градировки магнитного поля спомощью этало-
на, отличающийся тем, что с целью повышения точности и упроще-
ния процесса градуровки эталон, в качетве которого использова-
на тонкая     ферромагнитная   пленка   с  полосовой  доменной
структурой, на которую нанесен магнитный коллоид, намагничива-
ют под  определенным углом к направлению силовых линий градуи-
руемого поля, освещают его светом и наблюдают диффрагировавший
на эталоне  луч света,  затем увеличивают градуируемое поле по
величине, при  которой исчезает наблюдаемый луч,  сопоставляют
эту величину  с известным значением поля переключения эталона.

     А.с. 252 625:  Способ определения статистических характе-
ристик прозрачных диэлектрических пленок, заключающийся в том,
что через исследуемую пленку пропускают луч света, отличающий-
ся тем,  что с целью упрощения процесса и  сокращения  времени
определения, на    пути луча когенентного света за исследуемой
пленкой устанавливают экран с отверстием,  вращают исследуемую
пленку в плоскости, перпендикулярной оси луча, получают усред-
ненную дифракционную картину от отверстия и затем из сравнения
полученной усредненной  дифракционной картины с расчетной кар-
тиной определяют статические характеристики пленки.

    5.4.5. Интенференция волны.